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? 斯派克發布新一代SPECTRO MIDEX 小焦點ED-XRF
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斯派克發布新一代SPECTRO MIDEX 小焦點ED-XRF
拓普思實驗室系統
2018-11-23
德國斯派克近日發布了新一代的SPECTRO MIDEX 小焦點能散型X射線熒光光譜儀,提高了分析速度和分析準確度。 SPECTRO MIDEX 小焦點能散型X射線熒光光譜儀 新一代的SPECTRO MIDEX 分析儀采用了創新的ED-XRF檢測技術,這個創新使此臺儀器成為測量貴金屬的中頻臺式XRF儀器之一。此臺儀器提高了元素分析的準確性,對貴金屬冶煉來說,這一點是非常重要的;同時減少了測試時間提高了樣品通量,大型的品質認證是非常看重這一點的。此臺儀器操作簡便,并且可以很方便的將測試結果上傳到實驗室網絡中。 另外,SPECTRO MIDEX 的優勢還包括: 在較寬的濃度范圍內可保證較高的準確度;較短的分析時間(一般為30-40秒)。對于冶煉樣品的小飾品或者鉆粉,它的分析點位可以小至1毫米。對于均質性較差的銀質樣品,一個較大點位的平均分析結果可以有效的保證高準確度。 操作方便,軟件界面直觀,可在單一屏幕上展示所有相關信息。一個綜合性的視頻系統幫助操作者準確的放置樣品并定位分析點位。分析結果可展示、打印并上傳,大大方便了數據使用者。 成本低廉。適合于貴金屬測試辦公室、分析實驗室、品質鑒定和冶煉實驗室。與ICP-OES和火試金法需要消解不同,它在分析成本和速度上更有優勢。 高分辨率的硅漂移檢測器保證了微量和痕量元素分析的準確度。加上計數率,相同時間內,信號強度增加了四倍。 與以前的120秒的分析時間相比,分析速度大大提高。在準確度不變的情況下,一次掃描僅需30秒。 儀器設計緊湊,樣品室較大,可處理小至針類珠寶大至銀片的樣品。將樣品放入升降臺,然后旋轉按鈕將其準確地放置在超優的測量位置,關上分析儀,在屏幕上點擊開始即可開始分析
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